半導體HAST高壓加速老化試驗箱壹叁伍 叁捌肆陸 玖零柒陸 臨界點LIMIT方式自動An全保護，異常原因與故障指示燈顯示。利型packing，箱內壓力愈大時，packing會有反壓會使其與箱體更緊密結合，與傳統擠壓式完全不同，可延長packing壽命。
半導體HAST高壓加速老化試驗箱技術參數：
型號 ：pct-35 pct-45pct-55pct-65
內箱尺寸(㎝)：Φ35×45Φ45×55Φ55×65Φ65×75
溫度範圍：100℃～135℃
濕度範圍：RH飽和蒸汽
壓力範圍：大氣壓+0～4㎏/cm2 大氣壓+0～4㎏/cm2 大氣壓+0～4㎏/cm2 大氣壓+0～4㎏/cm2
參考標準：完全依據國標、行業標準等
備註：可根據客戶要求定制相應尺寸
半導體HAST高壓加速老化試驗箱產品特點：
1．試驗過程自動運轉至完成結束、使用簡便。
2．雙重過熱保護裝置，當鍋內溫度過高時，機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源。
3．ED數字型溫度控制器可作Jing確試驗溫度之設定、控制及顯示，PID控制誤差±0.1℃。
4．ED數字型計時器，當鍋內溫度到達后才開始計時以確保試驗完全。
5．Jing準的壓力、溫度對照顯示。
6．運轉時流水器自動排出未飽和蒸汽以達到佳蒸汽品質。
7．試驗過程中水位不足時能自動補充水位之功能，試驗不中斷，確保使用An全。
8．鍋內An全裝置，鍋門若未關緊則機器無法啟動。
9．An全閥，當鍋內壓力超過大工作值自動排氣泄壓。
10．門蓋保護，ABS材質製成可防止操作人員接觸。
11．一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。
半導體HAST高壓加速老化試驗箱注意事項：
1、在無試驗負荷、無層架情況下穩定30分鐘后測定的性能。
2、關于溫度上升及下降時間是指風冷式在周圍環境溫度為26℃±5℃,時所測量的性能。
3、溫濕度傳感器設置于空調箱出風口處。
4、溫濕度均勻度定義為：實驗室幾何中心點處，溫濕度時的所測之資料。
5、以上數據性能，測量，計算方法參照GB5170、2、GB5170、5的方法測定。
半導體HAST高壓加速老化試驗箱產品用途：
半導體HAST高壓加速老化試驗箱又稱高壓加速老化試驗機，廣泛應用于線路板，多層線路板，IC，CD，磁鐵等產品之密封性能的檢測，測試其製品的耐厭性，氣密性。
