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      集成電路PCT高壓加速老化試驗箱制造商

      2023-10-21 14:53   3063次瀏覽
      價 格: ¥ 66500

      集成電路PCT高壓加速老化試驗箱實驗開始前之真空動作可將原來箱內之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣(partical<1micorn)。以確保箱內之純凈度。臨界點LIMIT方式自動保護,異常原因與故障指示燈顯示。設備自售出之日起實行“三包”,質量保證期為驗收合格之日起壹年。在保修期內,非用戶原因造成的零部件損壞,免費更換(易損件不在保修范圍內)。

      集成電路PCT高壓加速老化試驗箱技術性能指標

      1.溫度范圍100℃~+135℃。

      2.溫度波動度±0.5℃。

      3.溫度均勻度±1.5℃。

      4.濕度范圍75%~R.H(可調節濕度)。

      5.濕度波動度±1.5%R.H。

      6.濕度均勻度±3.0%R.H。

      7.壓力范圍:

      1 )相對壓力范圍:+0~2kg/cm2(可調節)。(可生產壓力范圍::+0~4kg/cm2)。

      2 )壓力:1.0kg/cm2~3.0kg/cm2。

      3 )壓力容量:4kg/cm2=1個大氣壓+3kg/cm2。

      8.循環方式水蒸氣自然對流循環。

      9.測時間設置:0~999Hr。

      10.加壓時間:0.00kg/cm2~2.00kg/cm2約30分鐘。

      12.升溫時間由常溫升至+132℃約30分鐘非線性空載。

      13.溫度變化速率為空氣溫度平均變化速率,而非產品溫度變化速率。

      1.在無試驗負荷、無層架情況下穩定30分鐘后測定的性能。

      2.關于溫度上升及下降時間是指風冷式在周圍環境溫度為26℃±5℃,時所測量的性能。

      3.溫濕度傳感器設置于空調箱出風口處。

      4.溫濕度均勻度定義為:實驗室幾何中心點處,溫濕度時的所測之資料。

      5.以上數據性能,測量,計算方法參照GB5170.2、GB5170.5的方法測定。

      集成電路PCT高壓加速老化試驗箱特點

      1.圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業容器標準,可防止試驗中結露滴水設計。

      2.圓幅內襯,不銹鋼圓幅型內襯設計,可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。

      3.精密設計,氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續200h。

      4.自動門禁,圓型門自動溫度與壓力檢知門禁鎖定控制,利門把設計,箱內有大于常壓時測試們會被反壓保護。

      5.集成電路PCT高壓加速老化試驗箱專利型packing,箱內壓力愈大時,packing會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統擠壓式完全不同,可延長packing壽命。

      集成電路PCT高壓加速老化試驗箱執行與滿足標準

      1.GB/T10586-1989濕熱試驗箱技術條件。

      2.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗。

      3.MIL-STD810D方法502.2。

      4.GJB150.9-8溫濕試驗。

      5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度、高壓組合循環試驗。

      6.LEC60068-2-66試驗。

      7.JESD22-A102-B試驗。

      8.GB/T2423.40-1997試驗。

      廣東艾思荔檢測儀器有限公司

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