上海安竹光電X射線檢測(cè)設(shè)備 生產(chǎn)多種類型XDR-AZ550型XDR-AZ1500型 XDR-AZ350型 XDR-AZ1600型 XDR-AZ850型 XDR-AZ950型微焦數(shù)字成像 XDR-AZ650微焦X射線檢測(cè)設(shè)備 DR平板探測(cè)器 非晶硅 無(wú)線 有線 動(dòng)態(tài) 靜態(tài) 尺寸大小 等 款式多多 供客戶選擇 詳情請(qǐng)聯(lián)系：上海安竹光電
檢測(cè)元器件封裝完整性通過(guò)高清圖像可以檢測(cè)元器件的封裝是否完整，及時(shí)發(fā)現(xiàn)物理?yè)p傷或缺陷，避免因封裝問(wèn)題影響元器件性能4。
可檢測(cè)的電子元器件及常見(jiàn)缺陷可檢測(cè)的元器件涵蓋半導(dǎo)體、電容電阻、二極管、保險(xiǎn)絲、傳感器、連接器、電源開(kāi)關(guān)、加熱管、加熱絲、PCB、VGA、BAG、LED、USB、IC芯片、導(dǎo)線、端子、數(shù)據(jù)線、五金件、機(jī)電元件等眾多工業(yè)產(chǎn)品13。
常見(jiàn)缺陷包括電子產(chǎn)品位置是否偏移、少錫、雜質(zhì)、變形，是否脫焊、斷裂，各類元器件中的氣孔、裂紋、虛焊等，以及結(jié)構(gòu)復(fù)雜的鑄造件、管件焊縫的空焊、虛焊等內(nèi)部瑕疵5。
